Подбор товаров
Подбор параметров
Бренд
Источник света
Камера
Метод исследования
Применение
Специализация
Тип
Тип освещения

Микроскопы для материаловедения

Микроскопы для материаловедения широко распространены в сферах, связанных с изучением в одноименных сферах, а также в машиностроении и микроэлектронике. Когда сталкиваешься с этой областью науки, то сразу представляешь непрозрачные объекты вроде срезов, аншлифов, изломов и сколов. Специфика объекта дает возможность задействовать только отраженный свет, а также темное поле, поляризацию и контраст.

Для исследований отлично подходят такие типы микроскопов как:

  • прямые;
  • инвертированные;
  • инспекционные микроскопы;
  • стереомикроскопы.

Специфика работы микроскопов для материаловедения

Прямой микроскоп для изучения материалов позволяет работать с определенными образцами, что обуславливается ограничением пространства между линзами и предметным столом. В некоторых моделях реализованы специальные проставки, увеличивающие рабочую зону, но повседневный монтаж/снятие конструкции негативно сказывается как на устойчивости, так и на дальнейшей эксплуатации техники.

Использование прямых моделей накладывает определенный спектр ограничений на исследуемый объект. В частности, торцы должны быть параллельны, иначе фокус, особенно при увеличении, будет словить весьма проблематично. Оптимальные элементы для исследования – тонкие пластины, порошки, аншлифы с пробоподготовкой.

Инвертированные приборы имеет два преимущества над прямыми: 

  • отсутствие ограничения на размеры предметов; 
  • необходимость подготовки только лишь исследуемой поверхности. 

К минусам же отнесем нежелательные механические повреждения образцов при контакте с предметным столом и высокую стоимость самого микроскопа. Инвертированная техника отлично подходит для аншлифов, геологии и больших образцов вроде ГБЦ.

Инспекционное оборудование зачастую строится на базе прямых микроскопов, но отличия присутствуют. Здесь изменена конструкция предметного стола для возможности работы с фотошаблонами и кремниевыми пластинами. Размеры исследуемых пластин, которые могут достигать до 450 мм, накладывают высокие требования к жесткости конструкции и штатива в частности. Такие микроскопы монтируются исключительно в «чистых комнатах». 

Стереомикроскоп разработан для первичного ознакомления с контролем качества сварки, пайки, износом поверхности и не только. Он идеален для быстрой проверки контроля. Модели обладают хорошим рабочим расстоянием и стереоскопичностью изображения при отличной глубине резкости. Также возможна фотофиксация и измерение средствами комплектного ПО.

Покупайте у нас!

Нуждаетесь в качественном микроскопе для материаловедения? Закажите в компании «Микросистемы». Наши специалисты предложит лучшую конфигурацию согласно специфике работы и конкретных исследуемых образцов. Возможна доставка, установка и настройка оборудования «под ключ». Закажите прямо сейчас.