Сканирующий микроскоп SEC SNE-ALPHA

Исследуйте мир с помощью сканирующего электронного микроскопа SEC SNE-ALPHA. Идеальный выбор для материаловедения, биологии, геологии, микроэлектроники, химии и обучения. Настольный сканирующий микроскоп обеспечивает высокое качество изображений и точность исследований. Познайте мир на атомном уровне и расширьте свои знания о металлах, материалах и биологических объектах. Проведите точные исследования с помощью SEC SNE-ALPHA!
Оставить заявку В каталог
Сканирующий микроскоп

SEC SNE-ALPHA

Это высокоточное электронное устройство для исследования различных материалов в области материаловедения и электронной микроскопии. Он идеально подходит для биологии, геологии, металлов, микроэлектроники, обучения и химии. Этот настольный микроскоп специализируется на сканировании объектов с высокой степенью детализации, что делает его незаменимым инструментом для исследований и анализа в различных областях науки и промышленности.

Основные преимущества

SEC SNE-ALPHA

01.

Разрешение пять нанометров

Разрешение 5 нм: увеличение в 150 000 раз превышает возможности лучших в своём классе настольных сканирующих электронных микроскопов.

02.

Компактная конструкция

Размеры уменьшены на 40 % по сравнению с предыдущими моделями. Благодаря более компактной конфигурации SNE Alpha можно легко установить даже в самой маленькой лаборатории.

03.

Новый Nano-Eye третьего поколения

Значительно улучшенный интерфейс. Благодаря оптимальной настройке результаты можно просматривать на 60 % быстрее, чем в предыдущем программном обеспечении.

04.

Модернизированные автоматические функции

Недавно добавленная функция Auto-Gun-Align позволяет пользователям с лёгкостью делать снимки. Улучшенная функция автофокусировки позволяет пользователям точно наводить камеру и делать нужные снимки.

05.

Сшивание изображений

Снимайте более широкий спектр изображений. Для преобразования больших образцов в изображения и их анализа требуется сканирование больших площадей. BSE позволяет выбрать большую площадь образца, которую ранее нельзя былоснять на одном изображении с помощью сканирующего электронного микроскопа.

06.

3D-рендеринг

С легкостью и комфортом проверяйте и анализируйте шероховатость поверхности образцов с помощью наших новых функций 3D-рендеринга.

Отзывы клиентов

Есть вопросы?Свяжитесь с нами!

  • 123317, Москва, ул. 3-я Красногвардейская, 3
  • +7 (495) 234-23-32
  • info@microsystemy.ru
  • Пн. – Пт.: с 9:00 до 18:00

Схема проезда

Заезд с севера (с внутренней стороны МКАД)
Заезд с юга (с внешней стороны МКАД)
Проезд от ст. метро Улица 1905 года
Пешком от ст. метро Выставочная, 7 минут
Заезд с Шмитовского проезда (с запада)

captcha