Микроскоп KEYENCE VK-9700 с широкоформатным сканированием

Функция WIDE-scan позволяет легко и быстро сшивать изображения и проводить измерения на большей площади

Проблема 1

vk200
Ограниченное поле зрения мешает восприятию объекта как единого целого и сужает диапазон измерения.
Используйте широкоформатный режим WIDE-Scan для лучшего понимания структуры исследуемого объекта.
Высокое увеличение позволяет пользователю проводить измерения с высокой точностью. Однако с большим увеличением сокращается поле зрения, что мешает понять какую часть объекта Вы видите, и где она находится. Функция WIDE-Scan позволяет быстро и легко создавать изображения с широким полем зрения с помощью сшивания нескольких изображений.

vk200

Проблема 2

vk200
Измерение только одной области часто приводит к получению неверных данных относительно всего объекта.
С помощью функции WIDE-Scan результат измерений в различных участках может быть усреднен.
При измерении ограниченного количества областей результаты измерения могут различаться в зависимости от положения измерения. С помощью функции WIDE-Scan создается широкоформатное 3D изображения высокого разрешения, что позволяет усреднить данные, полученные со значительно большей площади. 

vk200