Атомно-силовой микроскоп AFM2000
Характеристики
Тип
Атомно-силовые
Область применения
Материаловедение
Специализация
Атомно-силовой
Цена по запросу
Оставить заявку
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Атомно-силовой микроскоп AFM2000 отличается высоким разрешением, простотой в эксплуатации и быстротой построения изображения без потери качества.
Подробнее
Описание
Атомно-силовой микроскоп AFM2000 отличается высоким разрешением, простотой в эксплуатации и быстротой построения изображения без потери качества. Сканер, расположенный на пьезотрубке, осуществляет сканирование. Благодаря отсутствию юстировочного зеркала в составе микроскопа достигается повышение стабильности и уровня отраженного лазерного сигнала от кантилевера. Конструкция имеет высокие антивибрационные характеристики и имеет встроенную систему виброизоляции.
В состав AFM2000 входит система оптического контроля юстировки пятна лазера на поверхности кантилевера и позиционирования кантилевера над поверхностью образца.
Дополнительно
| Рабочие режимы | Контактный (Contact) или полуконтактный (Tapping) Опциональные режимы: Friction, Phase, Magnetic, Electrostatic |
| Разрешение сканирования | В направлении XY: 0,2 нм, в направлении Z: 0,05 нм |
| Диапазон сканирования |
В направлении XY: 20 мкм, в направлении Z: 2 мкм (в зависимости от пьезосканера) |
| Углы сканирования | 0°~360° |
| Размер исследуемых образцов |
Диаметр: не более 90 мм, Высота: не более 20 мм |
|
Шаг перемещения образца по оси Z |
0 ~ 13мм |
| Скорость сканирования | 0,6 Гц ~ 4.34 Гц |
| Оптический объектив для позиционирования | Увеличение 4X с разрешением 2,5 мкм |
| Система подавления акустического шума | Сканирующая насадка располагается на пружинном подвесе |
| Интерфейс подключения к ПК | USB 2.0/3.0 |
| ПЗС-монитор | 5.6" в диагонали |
Задать вопрос
