Атомно-силовой микроскоп AFM2000
Атомно-силовой микроскоп AFM2000 отличается высоким разрешением, простотой в эксплуатации и быстротой построения изображения без потери качества. Сканер, расположенный на пьезотрубке, осуществляет сканирование. Благодаря отсутствию юстировочного зеркала в составе микроскопа достигается повышение стабильности и уровня отраженного лазерного сигнала от кантилевера. Конструкция имеет высокие антивибрационные характеристики и имеет встроенную систему виброизоляции.
В состав AFM2000 входит система оптического контроля юстировки пятна лазера на поверхности кантилевера и позиционирования кантилевера над поверхностью образца.Рабочие режимы | Контактный (Contact) или полуконтактный (Tapping) Опциональные режимы: Friction, Phase, Magnetic, Electrostatic |
Разрешение сканирования | В направлении XY: 0,2 нм, в направлении Z: 0,05 нм |
Диапазон сканирования |
В направлении XY: 20 мкм, в направлении Z: 2 мкм (в зависимости от пьезосканера) |
Углы сканирования | 0°~360° |
Размер исследуемых образцов |
Диаметр: не более 90 мм, Высота: не более 20 мм |
Шаг перемещения образца по оси Z |
0 ~ 13мм |
Скорость сканирования | 0,6 Гц ~ 4.34 Гц |
Оптический объектив для позиционирования | Увеличение 4X с разрешением 2,5 мкм |
Система подавления акустического шума | Сканирующая насадка располагается на пружинном подвесе |
Интерфейс подключения к ПК | USB 2.0/3.0 |
ПЗС-монитор | 5.6" в диагонали |
Оформить заказ на нашем сайте легко. Просто добавьте выбранные товары в лист запроса или оставьте заявку, а затем перейдите на страницу Запроса, проверьте правильность заказанных позиций и нажмите кнопку «Оформить запрос».
Если не нашли подходящее оборудование, оставьте нам заявку, и наши специалисты вам помогут подобрать подходящее оборудование.
Оставить заявку
Функция «Оставить заявку» позволяет вам не проходить всю процедуру оформления запроса самостоятельно. Вы заполняете форму, и через короткое время вам перезвонит менеджер. Он уточнит все условия запроса, ответит на вопросы, касающиеся качества товара, его особенностей.