Микроскопы для материаловедения
Микроскопы для материаловедения широко распространены в сферах, связанных с изучением в одноименных сферах, а также в машиностроении и микроэлектронике. Когда сталкиваешься с этой областью науки, то сразу представляешь непрозрачные объекты вроде срезов, аншлифов, изломов и сколов. Специфика объекта дает возможность задействовать только отраженный свет, а также темное поле, поляризацию и контраст.
Новинка
250 000 ₽
Новинка
3 010 000 ₽
Новинка
Цена по запросу
Новинка
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
Цена по запросу
от 1 100 000 ₽
1 100 000 ₽
Советуем
12 250 000 ₽
800 000 ₽
2 900 000 ₽
1 300 000 ₽
2 900 000 ₽
1 400 000 ₽
- прямые;
- инвертированные;
- инспекционные микроскопы;
- стереомикроскопы.
Специфика работы микроскопов для материаловедения
Прямой микроскоп для изучения материалов позволяет работать с определенными образцами, что обуславливается ограничением пространства между линзами и предметным столом. В некоторых моделях реализованы специальные проставки, увеличивающие рабочую зону, но повседневный монтаж/снятие конструкции негативно сказывается как на устойчивости, так и на дальнейшей эксплуатации техники.Использование прямых моделей накладывает определенный спектр ограничений на исследуемый объект. В частности, торцы должны быть параллельны, иначе фокус, особенно при увеличении, будет словить весьма проблематично. Оптимальные элементы для исследования – тонкие пластины, порошки, аншлифы с пробоподготовкой.
Инвертированные приборы имеет два преимущества над прямыми:
- отсутствие ограничения на размеры предметов;
- необходимость подготовки только лишь исследуемой поверхности.
К минусам же отнесем нежелательные механические повреждения образцов при контакте с предметным столом и высокую стоимость самого микроскопа. Инвертированная техника отлично подходит для аншлифов, геологии и больших образцов вроде ГБЦ.
Инспекционное оборудование зачастую строится на базе прямых микроскопов, но отличия присутствуют. Здесь изменена конструкция предметного стола для возможности работы с фотошаблонами и кремниевыми пластинами. Размеры исследуемых пластин, которые могут достигать до 450 мм, накладывают высокие требования к жесткости конструкции и штатива в частности. Такие микроскопы монтируются исключительно в «чистых комнатах».
Стереомикроскоп разработан для первичного ознакомления с контролем качества сварки, пайки, износом поверхности и не только. Он идеален для быстрой проверки контроля. Модели обладают хорошим рабочим расстоянием и стереоскопичностью изображения при отличной глубине резкости. Также возможна фотофиксация и измерение средствами комплектного ПО.
Поставка, установка, настройка, обучение, полное сопровождение
Наши специалисты предложат лучшую конфигурацию согласно специфике работы и конкретных исследуемых образцов. Возможна поставка, установка и настройка оборудования «под ключ», обучение сотрудников и дальнейшее сопровождение.Новости
Все новости