Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview LS-AFM
Новинка
Характеристики
Тип
Атомно-силовые
Область применения
Промышленность
Все характеристики
Цена по запросу
Оставить заявкуВ лист запроса
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview LS-AFM разработан специально для промышленности. Размеры и вес образца практически не ограничены, что даёт возможность тестировать особо крупные образцы, такие как пластины, крупные решётки и оптическое стекло.
Подробнее
Описание
Специально для промышленности был разработан атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview LS-AFM. Теперь возможно тестировать даже самые крупные образцы, такие как пластины, крупные решётки и оптическое стекло, благодаря тому, что размеры и вес образцов практически не ограничены.
Подложка из пластины SiC (карбида кремния) высотой 12 дюймов/ диапазон сканирования 10×10 мкм/Sa=59,1 мкм, Sq=74,3 мкм
Нетипичная структура впадины на пластине SiC (карбида кремния) высотой 12 дюймов/ диапазон сканирования 35×35 мкм
Некоторые особенности:
- Стол для образца имеет большой диапазон расширения и очень удобен при комбинации нескольких инструментов для in-situ детектирования
- Автоматическое сканирование одним щелчком мыши, возможность программировать несколько контрольных точек для быстрого и автоматизированного обнаружения
- Сканирующая головка Gantry, мраморное основание
- Гашение механических вибраций и экранирование окружающего шума значительно снижают уровень шума в системе
- Интеллектуальный метод посадки наконечника зонда с управляемым двигателем и пьезоэлектрической керамикой
- Интегрированный редактор нелинейной коррекции сканера обеспечивает точность измерений выше 98%
Примеры практического применения
Подложка из пластины SiC (карбида кремния) высотой 12 дюймов/ диапазон сканирования 10×10 мкм/Sa=59,1 мкм, Sq=74,3 мкм
Нетипичная структура впадины на пластине SiC (карбида кремния) высотой 12 дюймов/ диапазон сканирования 35×35 мкм
Дополнительно
| Рабочие режимы | Контактный (Contact) или полуконтактный (Tapping) Опциональные режимы: микроскопия сил трения (Friction) и поперечных сил (Lateral force), амплитуда (Amplitude), фазовый/бесконтактный режим (Phase), магнитно-силовая микроскопия (Magnetic force), электростатическая микроскопия (Electrostatic force) |
| Кривая резонансной частоты | F-Z force, RMS-Z |
| Метод сканирования по осям XYZ | Сканирование с помощью зонда |
| Диапазон сканирования XY | >100х100 мкм |
| Диапазон сканирования Z | >10 мкм |
| Разрешение сканирования | В направлении XY: 0,2 нм, в направлении Z: 0,05 нм |
| Столик XY | Управление приводом шагового двигателя с точностью перемещения 1 мкм |
| Столик Z | Управление приводом шагового двигателя с минимальным размером шага 10 нм |
| Подъемный ход по оси Z | 20 мм (опционально 25 мм) |
| Углы сканирования | 0°~360° |
| Платформа для монтажа образцов | Диаметр: 200 мм (опционально 300 мм) |
| Вес исследуемых образцов | Не более 20 кг |
| Диапазон перемещения столика | 200x200 мм |
| Скорость сканирования | 0,6 Гц ~ 30 Гц |
| Оптический объектив для позиционирования | Увеличение 10X |
| Камера | CMOS, 5 Мп |
| Интерфейс подключения к ПК | USB 2.0/3.0 |
| Операционная система | Windows 10 |
| Структура механизма сканирования | Сканирующая головка Gantry, мраморное основание |
| Система подавления акустического шума | Воздушный плавающий амортизирующий акустический экранирующий кожух (опционально активная амортизационная платформа) |
Задать вопрос
Обратная связь
Как заказать
Оформить заказ на нашем сайте легко. Просто добавьте выбранные товары в лист запроса или оставьте заявку, а затем перейдите на страницу Запроса, проверьте правильность заказанных позиций и нажмите кнопку «Оформить запрос».
Если не нашли подходящее оборудование, оставьте нам заявку, и наши специалисты вам помогут подобрать подходящее оборудование.
Оставить заявку
Функция «Оставить заявку» позволяет вам не проходить всю процедуру оформления запроса самостоятельно. Вы заполняете форму, и через короткое время вам перезвонит менеджер. Он уточнит все условия запроса, ответит на вопросы, касающиеся качества товара, его особенностей.
Услуги
Наша компания предлагает профессиональные услуги по настройке микроскопов. Мы знаем, насколько важно иметь точную и качественную настройку для достижения максимальной четкости и точности наблюдения. Наша команда экспертов имеет богатый опыт в области микроскопии и готова помочь вам в достижении наилучших результатов.
Компания Микросистемы предлагает высококачественные услуги по пусконаладке микроскопов. Наша команда опытных специалистов обладает всеми необходимыми знаниями и навыками для того, чтобы обеспечить эффективную работу вашего микроскопа.