Сканирующий напольный электронный микроскоп с катодом Шоттки Opto-Edu A63.7081
Характеристики
Тип
Электронный
Область применения
Электронная микроскопия
Специализация
Сканирующий
Цена по запросу
Оставить заявку
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
A63.7081 – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки, позволяющий получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава в реальном времени, что значительно упрощает получение данных как о морфологии поверхности образца, так и о его локальном элементом составе.
Подробнее
Описание
A63.7081 – сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки, позволяющий получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава в реальном времени, что значительно упрощает получение данных как о морфологии поверхности образца, так и о его локальном элементом составе. A63.7081 является эффективным аналитическим решением для проведения регулярного контроля качества материалов и различных лабораторных исследований.
Модернизированная колонна электронного микроскопа A63.7081 управляется усовершенствованной электроникой, и всего за один клик позволяет переключаться между предустановками, сохраняющими все настройки параметров микроскопа.
Модернизированная колонна электронного микроскопа A63.7081 управляется усовершенствованной электроникой, и всего за один клик позволяет переключаться между предустановками, сохраняющими все настройки параметров микроскопа.
Дополнительно
| СЭМ | A63.7069 и A63.7069-LV | A63.7080, A63.7080-L и A63.7080-M | A63.7081 |
|---|---|---|---|
| Разрешение | 3нм@30кВ(SE) 6нм@30кВ(BSE) | 1.5нм@30кВ(SE) 3нм@30кВ(BSE) | 1.0нм@30кВ(SE) 3.0нм@1кВ(SE) 2.5нм@30кВ(BSE) |
| Увеличение | 8x~300000x | 8x~800000x | 6x~1000000x |
| Электронная пушка | Картридж с предварительно отцентрированным вольфрамовым катодом | Автоэмиссионный катод Шоттки | Автоэмиссионный катод Шоттки |
| Напряжение | Ускоряющее напряжение 0~30кВ, непрерывное регулируемое с шагом 100В при 0-10кВ, и 1кВ при 10-30кВ | ||
| Функция быстрого обзора Quick View | В одно нажатие | Нет | Нет |
| Система линз | Трехуровневая электромагнитная коническая линза | Многоуровневая электромагнитная коническая линза | |
| Вакуумная система | 1 турбомолекулярный насос 1 форвакуумный насос Вакуум в камере образцов> 2,6х10-3 Па Вакуум в электронной колонне> 2,6х10-3 Па Полностью автоматический контроль вакуума Функция блокировки вакуума Опциональная модель: A63.7069-LV 1 турбомолекулярный насос 2 форвакуумных насоса Вакуум в камере образцов> 2,6х10-3 Па Вакуум в электронной колонне> 2,6х10-3 Па Полностью автоматический контроль вакуума Функция блокировки вакуума 10~270 Па для быстрого переключения за 90 секунд для BSE (LV) | 1 ионный насос 1 турбомолекулярный насос 1 форвакуумный насос Вакуум в камере образцов> 6х10-4 Па Вакуум в электронной колонне> 2х10-7 Па Полностью автоматический контроль вакуума Функция блокировки вакуума |
1 сорбционно-ионный насос 1 геттерно-ионный насос 1 турбомолекулярный насос 1 форвакуумный насос Вакуум в камере образцов> 6х10-4 Па Вакуум в электронной колонне> 2х10-7 Па Полностью автоматический контроль вакуума Функция блокировки вакуума |
| Детекторы | SE: Детектор вторичных электронов для режима высокого вакуума (с защитой детектора) | SE: Детектор вторичных электронов для режима высокого вакуума (с защитой детектора) | SE: Детектор вторичных электронов для режима высокого вакуума (с защитой детектора) |
| BSE: Полупроводниковый 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов | Опционально | Опционально | |
| Опциональная модель: A63.7069-LV BSE(LV): Полупроводниковый 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов | |||
| CCD: ИК-камера | CCD: ИК-камера | CCD: ИК-камера | |
| Внешние порты | 2 внешних порта на камере образцов для EDS, BSD, WDS и т.д. | 4 внешних порта на камере образцов для BSE, EDS, BSD, WDS и т.д. | 4 внешних порта на камере образцов для BSE, EDS, BSD, WDS и т.д. |
Задать вопрос
