Сканирующий электронный микроскоп SEC SNE-3200M
Характеристики
Тип
Электронный
Область применения
Электронная микроскопия
Специализация
Сканирующий
Все характеристики
Цена по запросу
Оставить заявку
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Настольный СЭМ среднего диапазона (сканирующий электронный микроскоп)
Компактный настольный РЭМ с 3-осевым управлением столиком и стандартными двойными детекторами визуализации (SE / BSE).
Компактный настольный РЭМ с 3-осевым управлением столиком и стандартными двойными детекторами визуализации (SE / BSE).
Подробнее
Описание
Включена возможность низкого вакуума для непроводящих образцов. Настольные SEM серии SNE-3200 соответствуют или превосходят возможности визуализации всех других доступных настольных SEM, за исключением SNE-4500M и SNE-4500M Plus. Дополнительные функции, такие как контроль переменного размера пятна, обеспечивают наиболее гибкую визуализацию, а также оптимальную генерацию рентгеновских лучей для анализа EDS. SNE-3200M стандартно поставляется с детектором обратного рассеяния (BSE) и настоящим детектором вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SE). Программное обеспечение на русском языке.
SNE-3200M универсален, его можно легко использовать для рабочих процессов контроля качества, инженерного персонала и даже в учебных заведениях благодаря его прочной конструкции и простому в освоении и использовании программному обеспечению.
По желанию, аппарат может поставляться с удалением некоторых функций, что делает эту модель самым доступным SEM на рынке.
Замораживающая платформа
Антивибрационный стол
Удобное позиционирование образца достигается перемещением ручного 3-х осевого столика. Доступен широкий выбор держателей для образцов, подходящих для любого типа образцов. Программное обеспечение предлагает начинающему пользователю простой и понятный интерфейс, свободный от беспорядка, в то время как более продвинутый пользователь может легко получить доступ к функциям, позволяющим дополнительно управлять функциями микроскопа.
С помощью интуитивно понятного программного обеспечения пользователи могут просматривать и сохранять изображения SE и BSE или как составное изображение, объединяющее SE + BSE, как показано ниже. Это составное изображение представляет собой отличный инструмент для исследовательского анализа, предлагая топографическую (SE) и композиционную (BSE) информацию на одном единственном изображении.
На всех слайдах записывается служебная информация, необходимая для дальнейшей отчётности:
1. Дата проведения эксперимента
2. Масштаб
3. Увеличение
4. Рабочее расстояние
5. Вольтаж
6. Режим работы
SNE-3200M универсален, его можно легко использовать для рабочих процессов контроля качества, инженерного персонала и даже в учебных заведениях благодаря его прочной конструкции и простому в освоении и использовании программному обеспечению.
По желанию, аппарат может поставляться с удалением некоторых функций, что делает эту модель самым доступным SEM на рынке.
Доступны дополнительные опции:
Элементный анализ EDSЗамораживающая платформа
Антивибрационный стол
| Рабочая камера | Автонастройка | Режимы сканирования |
X, Y, R (3 оси) - стандартные |
Старт (напряжение нити) |
Вторичныеэлектроны (SE) |
Удобное позиционирование образца достигается перемещением ручного 3-х осевого столика. Доступен широкий выбор держателей для образцов, подходящих для любого типа образцов. Программное обеспечение предлагает начинающему пользователю простой и понятный интерфейс, свободный от беспорядка, в то время как более продвинутый пользователь может легко получить доступ к функциям, позволяющим дополнительно управлять функциями микроскопа.
С помощью интуитивно понятного программного обеспечения пользователи могут просматривать и сохранять изображения SE и BSE или как составное изображение, объединяющее SE + BSE, как показано ниже. Это составное изображение представляет собой отличный инструмент для исследовательского анализа, предлагая топографическую (SE) и композиционную (BSE) информацию на одном единственном изображении.
Примеры снимков в разных режимах работы
На всех слайдах записывается служебная информация, необходимая для дальнейшей отчётности:
1. Дата проведения эксперимента
2. Масштаб
3. Увеличение
4. Рабочее расстояние
5. Вольтаж
6. Режим работы
Дополнительно
| ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ СИСТЕМА | |
| Разрешение |
|
| Ускоряющее напряжение |
|
| Детектор |
|
| Электронная пушка |
|
| ФУНКЦИИ ВИЗУАЛИЗАЦИИ | |
| Автоматические функции |
|
| Увеличение (в прямом эфире) |
|
| Увеличение (сохранено) |
|
| Размеры захвата изображений |
|
| Форматы изображений |
|
| Аннотация изображения |
|
| СИСТЕМА ПЕРЕМЕЩЕНИЯ ПРОБ | |
| Ход стола |
|
| Максимальный размер образца |
|
| ВАКУУМНАЯ СИСТЕМА | |
| Вакуумные режимы |
|
| Черновой вакуумный насос |
|
| Высоковакуумные насосы |
|
| РАЗМЕРЫ | |
| Основной блок |
|
| Блок управления |
|
Задать вопрос
Характеристики
|
Тип
|
Электронный |
|
Область применения
|
Электронная микроскопия |
|
Специализация
|
Сканирующий |
|
Объект исследования
|
Геология +, Металлы / материалы, Микроэлектроника, Реставрация |
Услуги
Наша компания предлагает профессиональные услуги по настройке микроскопов. Мы знаем, насколько важно иметь точную и качественную настройку для достижения максимальной четкости и точности наблюдения. Наша команда экспертов имеет богатый опыт в области микроскопии и готова помочь вам в достижении наилучших результатов.
Компания Микросистемы предлагает высококачественные услуги по пусконаладке микроскопов. Наша команда опытных специалистов обладает всеми необходимыми знаниями и навыками для того, чтобы обеспечить эффективную работу вашего микроскопа.
