Настольный электронный микроскоп Coxem EM-30AX

Производитель: Coxem

Краткие характеристики:

  • Тип: Электронный
  • Исполнение: Настольный
  • Применение: материаловедение, биология, химия, физика
  • Разрешение: 14 нм
  • Увеличение: 20 000х – 100 000х (с цифровым зумом)
  • Энергия пучка: 1 - 30 кВ
  • Детекторы: SE и BSE

Особенности и преимущества

Coxem EM-30AX, представляет собой настольный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с высоким разрешением, который обладает возможностями и техническими характеристиками, не имеющими аналогов ни в одном другом SEM в своей ценовой категории. 

Сканирующий настольный электронный микроскоп – это прибор, который можно использовать для анализа формы, количественной и качественной оценки составляющих микроструктуры материалов при масштабе десятых долей нанометра. Это важный инструмент для визуализации и точных измерений наноструктур. COXEM SEM предлагает идеальный баланс между точностью и производительностью. SEM - это универсальное оборудование для метрологии, промышленности, инженерных и исследовательских изысканий, использующееся в химии, биологии, материаловедении, а также наноматериалах и нанобиологии. 

EM-30, доступен как с детекторами SE (рассеянных электронов), так и с BSE (обратно-рассеянных электронов), которые позволяют оператору просматривать либо структуры по отдельности, либо как составное изображение для лучшего понимания микроструктуры и химии. В режиме низкого вакуума можно рассмотреть непроводящие образцы, без какой-либо специальной предварительной обработки, а встроенная оптическая камера помогает управлять держателями нескольких образцов и упрощает навигацию, используя переключение между разными масштабами: «Макро-Микро-Нано».

bse-detector.jpg

Oxford – продвинутое программное обеспечение для создания отчётов с помощью настраиваемых шаблонов. Помимо представления информации, в ПО представлен удобный инструментарий для задания критериев выборки, последующего анализа, классификации и экспорта в наиболее распространённые форматы текстовых файлов и баз данных. Программа полностью русифицирована.

em30ax-po.jpg

Элементный анализ вдоль линии

Встроенный блок элементного анализа проводит сканирование вдоль линии, заданной исследователем. Если необходимо, то можно проводить анализ в конкретной точке или просматривать значение по выбранной области. При возникновении ложных флуктуаций от фоновых икс-лучей, выполняется коррекция результатов в автоматическом режиме.

em30ax-analiz.jpg

EDAX

Исключительная производительность в определении лёгких элементов

Окно из нитрида кремния обеспечивает повышенную чувствительность в определении лёгких элементов на низких энергиях. 

Остальные преимущества

  • Высококачественные изображения с разрешением <14 нм
  • Чёткое изображение материалов на наноуровне
  • Автофокус и точная фокусировка
  • Большое увеличение
  • Точное позиционирование предметного столика
  • Автоматическое управление столиком с помощью курсора мыши на экране
  • Портативный, разработанный для размещения даже в небольших лабораторных помещениях
  • Модульная конструкция - неприхотливая в обслуживании
  • Доступны режимы низкого и высокого вакуума 

Режим высокого вакуума:

em30ax-highvacuum.jpg

Режим низкого вакуума:

em30ax-lowvacuum.jpg

Настольный сканирующий электронный микроскоп COXEM серии EM-30 - это единственный настольный сканирующий электронный микроскоп, доступный с источниками электронов CeB6 или вольфрама. В то время как эксплуатационные затраты на источники вольфрамовой нити низкие, источник CeB6 предлагает более яркое изображение при возбуждении пучка с низким напряжением для улучшения отношения сигнал-шум.

Работающий с программным обеспечением NanoStation, EM-30AX плавно интегрирует все функции SEM с возможностями EDS, такими как анализ композиционных частиц, и предоставляет передовые инструменты анализа изображений, такие как анализ профиля линии, для более точного определения размера частиц при работе на наноразмерном уровне. Автоматизированные функции, такие как автоматическое управление яркостью и контрастом практически в реальном времени, упрощают работу и помогают начинающим пользователям достигать стабильных результатов.

Дополнительный детектор STEM позволяет EM-30 использовать свое ускоряющее напряжение 30кВ для проведения анализа образцов на стандартных ПЭМ-решетках, в то время как на дополнительном охлаждающем столике анализируются образцы при температуре от -25°C до 50°C.

Снимки с аппарата:

ceramic.jpg

plastic.jpg

fiber.jpg

Технические характеристики

Увеличение 20-100 000х
Разрешение <14нм
Вакуум Стандартный: роторный насос
Высокий вакуум: турбо молекулярный насос
Ускоряющее напряжение 1-30кВ
Источник электронов Вольфрамовая нить
Детектор SE – вторичных электронов
BSE – рассеянных вторичных электронов (4 канальный)
Навигация Да
Система линз 2 уровня снижения
Диафрагма объектива 4 уровня переменной диафрагмы
Предметный столик Моторизованный. X: 35мм, Y: 35мм, T: от 0° to 45°, Z: от 5мм до 50mмм.
Ручной поворот на 360°
Допустимый размер образца 70мм (диаметр) х 45 мм (высота)
Автоматизация Фокус, нить накала, контраст, яркость
Режим сканирования Уменьшенное окно (320 х 240 пикселей)
ТВ режим (640 х 240 пикселей)
Замедленное видео (800 х 600 пикселей)
Фотоформат (от 1280 х 960 до
5120 x 3840 пикселей)
Форматы сохранения изображений jpeg, tiff, BMP
Размер 440мм x 600мм x 550мм
Вес 100кг